预浸渍材料是由树脂和载体构成的的一种片状材料。其中树脂处于b-阶段,温度和压力作用下,具有流动性并能迅速地固化和完成粘结过程,并与载体一起构成绝缘层。俗称半固化片或粘结片。为---多层印制线路板回收的高---性及的稳定性,必须对半固片特性进行检测(试层压法)。电路板电镀半固化片特性包含层压前的特性和层压后特性两部分。层压前的特性主要指:树脂含量%、流动性%、挥发物含量%和凝胶时间(s)。层压后的特性是指:电气性能、热冲击性能和可燃性等。为此,为---多层印制电路板的高---姓和层压工艺参数的稳定性,检测层压前电路板电镀半固化片的特性是非常重要的。1.树脂含量(%)测定:(1)试片的制作:按电路板电镀半固化片纤维方向:以45°角切成100×100(mm)小试块;
(2)称重:使用度为0.001克天平称重wl(克);
(3)加热:在温度为566.14℃加热烧60分钟,冷却后再进行称量w2(克);
(4)计算: w1-w2树脂含量(%)=(w1-w2) /w1×1002. 树脂流量(%)测定:(1)试片制作:按电路板电镀半固化片纤维方向,以45°角切成100×100(mm)数块约20克 试片;
(2)称重:使用度为0.001克天平准确称重w1(克);
(3)加热加压:按压床加热板的温度调整到171±3℃,当试片置入加热板内,施加压力为14±2kg/cm2以上,加热加压5分钟,将流出胶切除并进行 称量w2(克);
(4)计算:树脂流量(%)=(w1-w2) /w1×1003. 凝胶时间测定:(1)试片制作:按电路板电镀半固化片纤维方向,以45°角切成50×50(mm)数块(每块约15克);
(2)加热加压:调整加热板温度为171±3℃、压力为35kg/cm2加压时间15秒;
(3)测定:试片从加压开始时间到固化时间至是测定的结果。4.挥发物含量侧定:(1)试片制作:按电路板电镀半固化片纤维方向,以45°角切成100×100(mm)1块;
(2)称量:使用度为0.001克天平称重w1(克);
(3)加热:使用空气循环式恒温槽,在163±3℃加热15分钟然后再用天平称重w2(克);
(4)计算:挥发分(%)=(w1-w2) /w1×100








一.带程序的芯片
1.eprom芯片一般不宜损坏.因这种芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 故在测试中不会损坏程
wifi显微镜进行电路板检测
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序.但有资料介绍:因制作芯片的材料所致,随着时间的推移(年头长了),即便不用也有可能损坏(主要指程序).所以要 尽可能给以备份.
2.eeprom,sprom等以及带电池的ram芯片,均极易破坏程序.这类芯片 是否在使用<测试仪>;进行vi曲线扫描后,是否就破坏了程序,还未有定论.尽管如此,同仁们在遇到这种情况时,还是小心为妙.笔者曾经做过 多次试验,可能大的原因是:检修工具(如测试仪,电烙铁等)的外壳漏电 所致.
3.对于线路板回收上带有电池的芯片不要轻易将其从板上拆下来.
二.复位电路
1.待修线路板回收上有---集成电路时,应注意复位问题.
2.在测试前装回设备上,反复开,关机器试一试.以及多按几次复位键.
三.功能与参数测试
1.<测试仪>;对器件的检测,仅能反应出截止区,放大区和饱和区.但不 能测出工作频率的高低和速度的快慢等具
便携显微镜进行电路板检测
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体数值等.
2.同理对ttl数字芯片而言,也只能知道有高低电平的输出变化.而无 法查出它的上升与下降沿的速度.
四.晶体振荡器
1.通常只能用示波器(晶振需加电)或频率计测试,万用表等无法测量, 否则只能采用代换法了.
2.晶振常见故障有:a.内部漏电,b.内部开路c.变质频偏d.---相连电 容漏电.这里漏电现象,用<测试仪>;的vi曲线应能测出.
3.整板测试时可采用两种判断方法:a.测试时晶振附近既周围的有关 芯片不通过.b.除晶振外没找到其它故障点.
4.晶振常见有2种:a.两脚.b.四脚,其中第2脚是加电源的,注意不可随 意短路.五.故障现象的分布
便携式显微镜检测电路板
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1线路板回收故障部位的不完全统计:1)芯片损坏30%, 2)分立元件损坏30%,
3)连线(pcb板敷铜线)断裂30%, 4)程序破坏或丢失10%(有上升趋势).
2.由上可知,当待修线路板回收出现联线和程序有问题时,又没有好板子,既 不熟悉它的连线,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了. [2]
对于裸板测试来说,有的测试仪器(lea,1990)。一种成本更为优化的方法是使用一个通用的仪器,尽管这类仪器比的仪器更昂贵,但它的高费用将被个别配置成本的减少抵消。对于通用的栅格,带引脚元器件的板子和表面贴装设备的标准栅格是2.5mm。此时测试焊盘应该大于或等于1.3mm。对于imm 的栅格,测试焊盘设计得要大于0.7mm。假如栅格较小,则测试针小而脆,并且容易损坏。因此,选用大于2.5mm 的栅格。crum (1994b) 阐明,将通用测试仪(标准的栅格测试仪)和飞针测试仪联合使用,可使高密度电路板的检测即经济。他建议的另外一种方法是使用导电橡胶测试仪,这种技术可以用来检测偏离栅格的点。然而,采用热风整平处理的焊盘高度不同,将有碍测试点的连接。

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